GB/T 44454-2024 熒光材料光致發(fā)光量子效率絕對(duì)測(cè)量通用檢測(cè)方法

Universal test method for absolute measurement of photoluminescence quantum efficiency of fluorescent materials

GB/T 44234-2024 納米技術(shù) 納米材料與氣體表界面作用熱力學(xué)參數(shù)和動(dòng)力學(xué)參數(shù)測(cè)量 諧振微質(zhì)量法

Nanotechnology Measurement of thermodynamic and kinetic parameters of nanomaterial-gas surface interactions Resonant micromass method

GB/T 44076-2024 納米技術(shù) 碳納米管電學(xué)特性測(cè)試方法

Nanotechnology Carbon Nanotube Electrical Properties Test Method

GB/T 44075-2024 納米技術(shù) 表面增強(qiáng)拉曼固相基片均勻性測(cè)量 拉曼成像分析法

Nanotechnology Surface Enhanced Raman Solid Substrate Uniformity Measurement Raman Imaging Analysis

GB/T 43845-2024 基于掃描氮-空位探針的微弱靜磁場(chǎng)成像測(cè)量方法

Weak static magnetic field imaging measurement method based on scanning nitrogen-vacancy probe

GB/T 43682-2024 納米技術(shù) 亞納米厚度石墨烯薄膜載流子遷移率及方塊電阻測(cè)量方法

Nanotechnology: Measurement method of carrier mobility and sheet resistance of sub-nanometer thickness graphene films

GB/T 30544.12-2023 納米科技 術(shù)語 第12部分：納米科技中的量子現(xiàn)象

Nanotechnology Terminology Part 12: Quantum Phenomena in Nanotechnology

GB/T 42106-2022 納米技術(shù) 三維納米結(jié)構(gòu)與器件的加工方法 離子束輻照誘導(dǎo)應(yīng)變法

本文件描述了離子束輻照誘導(dǎo)應(yīng)變技術(shù)構(gòu)建三維納米結(jié)構(gòu)與器件的加工方法,主要包括加工原理、材料與設(shè)備、環(huán)境條件、加工方法。 本文件適用于離子束輻照誘導(dǎo)直立納米線和平面納米薄膜的空間應(yīng)變,進(jìn)而實(shí)現(xiàn)三維空間中由一維納米線和二維納米薄膜構(gòu)成的三維納米結(jié)構(gòu)與器件。

Nanotechnology—Fabrication of three dimensional nanostructures and devices—A strain method induced by ion beam irradiation

GB/T 32006-2015 金納米棒光熱效應(yīng)的評(píng)價(jià)方法

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了金納米棒光熱效應(yīng)評(píng)價(jià)的原理、儀器部件、樣品制備、測(cè)試步驟和數(shù)據(jù)處理。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于金納米棒溶膠體系光熱效應(yīng)的評(píng)價(jià)，其他貴金屬納米顆粒溶膠體系的光熱效應(yīng)評(píng)價(jià)亦可參照本標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。

Evaluation of photothermal effect of gold nanorods

GB/T 32006-2015(英文版) 金納米棒光熱效應(yīng)評(píng)價(jià)

Evaluation of photothermal effect of gold nanorods

GB/T 31228-2014 儀器化納米壓入試驗(yàn) 術(shù)語

本標(biāo)準(zhǔn)界定了儀器化納米壓入試驗(yàn)在基礎(chǔ)通用、儀器特性、力學(xué)測(cè)量、參數(shù)識(shí)別、試驗(yàn)樣品、測(cè)試設(shè)定方面所涉及的常用術(shù)語及其定義。本標(biāo)準(zhǔn)主要適用于儀器化納米壓人試驗(yàn),也可拓寬至儀器化壓入試驗(yàn)。

Instrumented nanoindentation test.Terminology

GB/T 30113.1-2013 空間微重力流體物理 流場(chǎng)光學(xué)測(cè)量技術(shù)規(guī)范 第1部分:陰影法、紋影法

GB/T30113 的本部分規(guī)定「空間微求和方法。 重力流休物理實(shí)驗(yàn)陰影、紋影測(cè)量系統(tǒng)設(shè)i十和測(cè)試的原貝U、要本部分適用于在空間微亙力環(huán)境中使用的,航天器載荷的陰影、紋影測(cè)量系統(tǒng)的設(shè)計(jì)和測(cè)試,落塔、拋物線飛機(jī)和地而實(shí)驗(yàn)的陰影、紋影測(cè)量系統(tǒng)設(shè)計(jì)和測(cè)試也可參考使用”

Optical measurement methods on flow field in microgravity fluid physics.Part 1:Shadowgraph and schlieren

GB/T 17754-2012 摩擦學(xué)術(shù)語

本標(biāo)準(zhǔn)確定了摩擦學(xué)常用術(shù)語及其定義或定義性說明、本標(biāo)準(zhǔn)適用于摩擦學(xué)及其相關(guān)領(lǐng)域的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)、技術(shù)文件、教材、書刊的編寫和翻譯,以及摩擦學(xué)科研、教學(xué)、學(xué)術(shù)交流和工程應(yīng)用、

Tribology terminology

GB/T 25898-2010 儀器化納米壓入試驗(yàn)方法 薄膜的壓入硬度和彈性模量

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了測(cè)試薄膜的壓入硬度和彈性模量的儀器化納米壓入試驗(yàn)方法。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于附著在固體表面的薄膜。壓入方向?yàn)榇怪庇谠嚇颖砻娣较?，壓入深度范圍通常納米量級(jí)，也可以擴(kuò)展到幾微米。

Instrumented nanoindentation test.Indentation hardness and modulus of thin film

GB/T 25898-2010(英文版) 儀器化納米壓痕試驗(yàn) 薄膜的壓痕硬度和模量

Instrumented nanoindentation test—Indentation hardness and modulus of thin film

GB/T 22458-2008 儀器化納米壓入試驗(yàn)方法通則

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了對(duì)儀器化納米壓入試驗(yàn)用儀器的能力要求和試驗(yàn)的基本方法，還規(guī)定了對(duì)儀器校準(zhǔn)和檢驗(yàn)、壓頭、標(biāo)準(zhǔn)樣品的要求，以及儀器柔度和壓頭面積函數(shù)的確定方法，并給出了確定硬度和材料參數(shù)所需的數(shù)據(jù)分析方法和壓頭使用的注意事項(xiàng)。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于測(cè)試各種體材料和薄膜的硬度、模具等，其壓入深度范圍通常在納米量級(jí)，也可以擴(kuò)展至幾微米。

General rules of instrumented nanoindentation test

GB/T 22458-2008(英文版) 儀器化納米壓痕測(cè)試的一般規(guī)則

General rules of instrumented nanoindentation test

GB/T 22231-2008 顆粒物粒度分布/纖維長(zhǎng)度和直徑分布

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了顆粒物粒度分布/纖維長(zhǎng)度和直徑分布的測(cè)量方法。 A和也兩種方法均可用于純品或商業(yè)產(chǎn)品。 方法A 測(cè)定顆粒物粒度分布(有效流體動(dòng)力學(xué)半徑)，僅適用于不溶于水(小于 10。 g/L)的粉末狀 產(chǎn)品。 方法 B 測(cè)定纖維長(zhǎng)度和直徑分布，僅適用于纖維狀產(chǎn)品。應(yīng)考慮顆粒形狀不純帶來的影響。 指導(dǎo)性信息:方法 A——熔點(diǎn)，;方法 B——熔點(diǎn)。

Particle Size Distribution/Fiber Length and Diameter Distribution

GB/T 21865-2008 用半自動(dòng)和自動(dòng)圖象分析法測(cè)量平均粒度的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了金屬和非金屬多晶體材料的平均晶粒度、截距和晶粒面積分布的基本測(cè)量方法。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于等軸型和伸長(zhǎng)型晶粒結(jié)構(gòu)的單一相和雙相系試樣。 本標(biāo)準(zhǔn)同樣適用于其他類似晶型結(jié)構(gòu)的物質(zhì)，如蜂窩結(jié)構(gòu)的物質(zhì)。 本標(biāo)準(zhǔn)需要使用半自動(dòng)或全自動(dòng)圖像分析儀器。 本標(biāo)準(zhǔn)僅作為推薦性試驗(yàn)方法，它不能確定受檢驗(yàn)材料是否接受或適合適用的范圍。 本標(biāo)準(zhǔn)未考慮與試驗(yàn)相關(guān)的所有安全問題。試驗(yàn)人應(yīng)自己負(fù)責(zé)與安全及健康相關(guān)的措施。

Standard test methods for determining average grain size using semiautomatic and automatic image analysis

GB/T 18022-2000 聲學(xué) 1～10MHz頻率范圍內(nèi)橡膠和塑料縱波聲速與衰減系數(shù)的測(cè)量方法

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了橡膠和塑料以及它們?yōu)榛A(chǔ)的復(fù)合材料縱波聲速和衰減系數(shù)的測(cè)量方法。 本標(biāo)準(zhǔn)適用的頻率范圍為1～10MHz。

Acoustics-Methods for measuring the longitudinal sound speed and attenuation coefficient of rubbers and plastics in the frequency range 1MHz to 10MHz