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儀器簡介:通過測(cè)量作物冠層PAR值提供了關(guān)于影響田間作物生長的限制因素的有價(jià)值的信息,如葉面積指數(shù)(LAI);SunScan探測(cè)器也可被用來描繪作物冠層PAR的分布圖。 根據(jù)冠層吸收的Beer法則(Beer&rsquo...
儀器簡介:HemiView 通過處理影像數(shù)據(jù)文件來獲取與冠層結(jié)構(gòu)有關(guān)的,例如葉面積指數(shù)、光照間隙及間隙分布狀況。通過分析輻射數(shù)據(jù)的相關(guān)信息,HemiView 能夠測(cè)算出冠層截獲的PAR以及冠層下方的輻射水平。其軟件...