Zeta-APS 高濃度納米粒度儀及Zeta電位分析儀相關(guān)技術(shù)優(yōu)勢比較：

1、相比光學(xué)分析方法的技術(shù)優(yōu)勢：

• 被測樣品無需稀釋；

• 排除雜質(zhì)對樣品污染的干擾；

• 無需定標(biāo)；

• 能分析多種分散物的混合體；

• 高精度；

• 所檢測粒徑范圍從5 nm至1000μm。

2、相比electroactics方法的技術(shù)優(yōu)勢：

• 無需定標(biāo)；

• 能測更寬的粒徑范圍；

• 無需依賴Double Layer模式；

• 無需依賴( electric surface properties)電表面特牲；

• 零表面電荷條件下也可測量粒徑；

• 可適用于無水體系；

• 可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系；

3、相比微電泳方法的技術(shù)優(yōu)勢：

• 無需稀釋，固合量高達(dá)60%；

• 可排除雜質(zhì)對樣品污染的干擾；

• 高精度(±0.1mv)；

• 低表面電荷(可低至0. 1mv)；

• electrosmotic flow不影響測量；

• 對流(convection)不影響測量；

• 可精確測量無水體系。

相關(guān)技術(shù)參數(shù)：

• 所檢測粒徑范圍寬：5 nm至1000μm；

• 可測量參數(shù)：粒度分布、固含量、Zeta電位、等電點(diǎn)IEP、E5A、電導(dǎo)率、PH、溫度、聲衰減；

• Zeta電位測量范圍：+/-200 mv，低表面電荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv);

• 零表面電荷條件下也可測量粒徑；

• 允許樣品濃度：0.1-60%(體積百分?jǐn)?shù))；

• 樣品體積：30-230ml；

• PH范圍：0~14;

• 電導(dǎo)率范圍：0~10 s/m

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注：該產(chǎn)品未在中華人民共和國食品藥品監(jiān)督管理部門申請醫(yī)療器械注冊和備案，不可用于臨床診斷或治療等相關(guān)用途。