Zeta-APS 高濃度納米粒度儀及Zeta電位分析儀簡(jiǎn)介

Zeta potential is an electrostatic potential that exists very near the surface of particles suspended in liquids1. Zeta potential (ζ) is responsible for particle-particle repulsion forces in colloidal suspensions and thus can be used to predict colloid stability against particle aggregation. Figure 1 illustrates a particle suspended in a liquid along with various notional regions around it.  The“slipping plane” or “shear plane” is where Zeta potential is located versus the potential in the bulk solution. Within this slipping plane, the liquid is bound to the particle while it moves freely outside this boundary. The net potential far from the particle (in the bulk of the liquid) is zero.

Zeta電位是液體中懸浮的粒子很接近表面位置的靜電勢(shì)1。Zeta電位(ζ)是由膠體中粒子與粒子間的相互作用造成的，因此它可以用來(lái)預(yù)測(cè)膠體體系里粒子聚集的穩(wěn)定性。圖1顯示了懸浮在液體中的粒子及其周圍的各種概念區(qū)域。Zeta電位指的是液體中滑動(dòng)面或者剪切面的電位。在這個(gè)滑動(dòng)平面內(nèi)，當(dāng)液體在這個(gè)邊界外自由運(yùn)動(dòng)時(shí)，它與粒子結(jié)合在一起。遠(yuǎn)離粒子的凈電勢(shì)(在液體中)為零。

Figure 1. A negatively charged particle suspended in a liquid. Notional boundaries are shown.

圖1懸浮在液體中的帶負(fù)電的粒子及其周圍的各種概念區(qū)域

PS：這個(gè)是另外的一種說(shuō)法，但是要描述的內(nèi)容是一樣的；

由于分散粒子表面帶有電荷而吸引周圍的反號(hào)離子，這些反號(hào)離子在兩相界面呈擴(kuò)散狀態(tài)分布而形成擴(kuò)散雙電層。根據(jù)Stern雙電層理論可將雙電層分為兩部分，即Stern層和擴(kuò)散層。Stern層定義為吸附在電極表面的一層離子（IHP or OHP）電荷中心組成的一個(gè)平面層，此平面層相對(duì)遠(yuǎn)離界面的流體中的某點(diǎn)的電位稱為Stern電位。穩(wěn)定層(Stationary layer) (包括Stern層和滑動(dòng)面slipping plane以內(nèi)的部分?jǐn)U散層) 與擴(kuò)散層內(nèi)分散介質(zhì)(dispersion medium)發(fā)生相對(duì)移動(dòng)時(shí)的界面是滑動(dòng)面(slipping plane)，該處對(duì)遠(yuǎn)離界面的流體中的某點(diǎn)的電位稱為Zeta電位或電動(dòng)電位（ζ-電位）。

典型應(yīng)用：

       綜合穩(wěn)定水泥漿、陶瓷、化學(xué)機(jī)械研磨、煤漿、涂料、化妝品、環(huán)境保護(hù)禪選法礦物富集、食品工業(yè)、乳膠、微乳、混合分散體系、納米粉、無(wú)水體系、油漆成像材料等。

主要特點(diǎn)：

• 能分析多種分散物的混合體；

• 無(wú)需依賴Double Layer模式，精確地判定等電點(diǎn)；

• 可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系；

• 可排除雜質(zhì)對(duì)樣品污染的干擾；

• 可精確測(cè)量無(wú)水體系；

• Zeta電位測(cè)試采用多頻電聲測(cè)量技術(shù)，無(wú)需先測(cè)量粒度即可進(jìn)行電位測(cè)量；

• 樣品的高濃度可達(dá)60%(體積比)，被測(cè)樣品無(wú)需稀釋，對(duì)濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測(cè)量；

• 具有自動(dòng)電位滴定功能。

Zeta-APS 高濃度納米粒度儀及Zeta電位分析儀相關(guān)技術(shù)優(yōu)勢(shì)比較：

1、相比光學(xué)分析方法的技術(shù)優(yōu)勢(shì)：

• 被測(cè)樣品無(wú)需稀釋；

• 排除雜質(zhì)對(duì)樣品污染的干擾；

• 無(wú)需定標(biāo)；

• 能分析多種分散物的混合體；

• 高精度；

• 所檢測(cè)粒徑范圍從5 nm至1000μm。

2、相比electroactics方法的技術(shù)優(yōu)勢(shì)：

• 無(wú)需定標(biāo)；

• 能測(cè)更寬的粒徑范圍；

• 無(wú)需依賴Double Layer模式；

• 無(wú)需依賴( electric surface properties)電表面特牲；

• 零表面電荷條件下也可測(cè)量粒徑；

• 可適用于無(wú)水體系；

• 可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系；

3、相比微電泳方法的技術(shù)優(yōu)勢(shì)：

• 無(wú)需稀釋，固合量高達(dá)60%；

• 可排除雜質(zhì)對(duì)樣品污染的干擾；

• 高精度(±0.1mv)；

• 低表面電荷(可低至0. 1mv)；

• electrosmotic flow不影響測(cè)量；

• 對(duì)流(convection)不影響測(cè)量；

• 可精確測(cè)量無(wú)水體系。

相關(guān)技術(shù)參數(shù)：

• 所檢測(cè)粒徑范圍寬：5 nm至1000μm；

• 可測(cè)量參數(shù)：粒度分布、固含量、Zeta電位、等電點(diǎn)IEP、E5A、電導(dǎo)率、PH、溫度、聲衰減；

• Zeta電位測(cè)量范圍：+/-200 mv，低表面電荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv);

• 零表面電荷條件下也可測(cè)量粒徑；

• 允許樣品濃度：0.1-60%(體積百分?jǐn)?shù))；

• 樣品體積：30-230ml；

• PH范圍：0~14;

• 電導(dǎo)率范圍：0~10 s/m

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