通過使用 Epsilon Xflow 進行在線液體分析，可以快速準確地控制過程參數(shù)。 增強的法規(guī)和質(zhì)量規(guī)范推動對持續(xù)工藝流程的需求。 Epsilon Xflow 提供的實時洞察能力讓您能夠更有效地管理您的生產(chǎn)工藝并降低運營成本。?...
硫氯分析性能媲美波譜儀Epsilon 1 是理想的分析解決方案。此系統(tǒng)在出廠時進行了預校準，是按照 ISO 13032 對燃料中超低硫含量進行分析的現(xiàn)成解決方案。Epsilon 1 可為您提供精密而準確的數(shù)據(jù)，并降低樣品制備和運...
借助 XRF 光譜儀 Epsilon 3 系列的經(jīng)驗打造而成，Epsilon 4 是一款多功能臺式 XRF 分析儀，廣泛用于從研發(fā)到流程控制等各個領域中需要從氟 (F) 到镅 (Am) 元素分析的行業(yè)細分市場。
Epsilon 1 是一款集成型能量色散型 XRF 分析器，其包括光譜儀、內(nèi)置計算機、觸摸屏和分析軟件。 Epsilon 1 采用激發(fā)和檢測技術的新成果，是低成本小型臺式XRF儀器。Epsilon 1 生成快速、具有成本效益、準確的數(shù)據(jù)，...
在幾秒鐘內(nèi)完成多元素化學成分分析由于時間關鍵型過程控制或運行樣品高處理量，您是否需要在幾秒鐘內(nèi)對化學成分進行無損分析？ 同時測量多達 28 種元素，濃度范圍為從 ppm 至 100％，馬爾文帕納科Axios FAST 同步...
2830 ZT 波長色散 X 射線熒光 (WDXRF) 晶圓分析儀提供了用于測量薄膜厚度和成分的功能。 2830 ZT 晶圓分析儀專門針對半導體和數(shù)據(jù)存儲行業(yè)而設計，該儀器可為多種晶片（厚達 300 mm）測定層結(jié)構、厚度、摻雜度和表面...
歡迎來到元素分析的新時代極光Revontium·緊湊型X射線熒光光譜儀極光兼具落地式XRF和ICP儀器的性能與臺式儀器的諸多優(yōu)勢。極光占用的空間和造成的環(huán)境影響更少，減少了對耗材、大量樣品制備和維護的需求，使用成本可...
X 射線熒光光譜 (XRF) 能夠?qū)Χ喾N材料進行元素分析，包括固體、液體和疏松粉末。 Zetium 光譜儀專為滿足要求嚴苛的流程控制和研發(fā)應用需求而設計，其高品質(zhì)的設計和功能，可對從鈹?shù)斤训榷喾N元素進行精度范圍從百萬...
In-line control for continuous roll-to-roll processesEpsilon Xline combines our advanced energy dispersive XRF (EDXRF)?technology with in-line functionality. This advanced solution enables real-t...
