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NS-EN 13925-3:2005
無損檢測 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第3部分：儀器

Non destructive testing — X ray diffraction from polycrystalline and amorphous materials — Part 3: Instruments


標(biāo)準(zhǔn)號
NS-EN 13925-3:2005
發(fā)布
2005年
發(fā)布單位
SCC
當(dāng)前最新
NS-EN 13925-3:2005
 
 
適用范圍
采納來源：EN 13925-3:2005 本文件列出了用于 X 射線粉末衍射的儀器的特性（“粉末”在 EN 13925-1:2003 第 5 條中定義），作為控制這些儀器的基礎(chǔ)，從而保證通過該技術(shù)進(jìn)行的測量的質(zhì)量。給出了衍射儀性能測試的性能測試指標(biāo)。不同類型和品牌的 X 射線粉末衍射儀在設(shè)計(jì)和預(yù)期應(yīng)用領(lǐng)域方面差異很大。本文件試圖通過遵循共同原則盡可能多地涵蓋這一范圍。為了使標(biāo)準(zhǔn)更容易應(yīng)用，由于 Bragg-Brentano 配置用途廣泛，因此對其進(jìn)行了最詳細(xì)的介紹?？赡苄枰M(jìn)行額外的考慮和調(diào)整，以涵蓋某些類型的儀器或配置和某些應(yīng)用領(lǐng)域。附件 B 中描述了其中一些類型的儀器。

專題

NS-EN 13925-3:2005相似標(biāo)準(zhǔn)

推薦

X射線衍射的應(yīng)用

X射線衍射儀　　基本構(gòu)成　　（1） 高穩(wěn)定度X射線源　　提供測量所需的X射線, 改變X射線管陽極靶材質(zhì)可改變X射線的波長, 調(diào)節(jié)陽極電壓可控制X射線源的強(qiáng)度?！　。?） 樣品及樣品位置取向的調(diào)整機(jī)構(gòu)系統(tǒng)　　樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊?！　。?em>3） 射線檢測器　　檢測衍射強(qiáng)度或同時檢測衍射方向, 通過儀器測量記錄系統(tǒng)或計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)可以得到多晶衍射圖譜數(shù)據(jù)?！　?..

X射線衍射儀主要的應(yīng)用有那幾個方面

2、樣品及樣品位置取向的調(diào)整機(jī)構(gòu)系統(tǒng)樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊?！　　　?em>3、射線檢測器檢測衍射強(qiáng)度或同時檢測衍射方向，通過儀器測量記錄系統(tǒng)或計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)可以得到多晶衍射圖譜數(shù)據(jù)?！　　　?、衍射圖的處理分析系統(tǒng)，現(xiàn)代X射線衍射儀都附帶安裝有衍射圖處理分析軟件的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)，它們的特點(diǎn)是自動化和智能化。　　　　...

談?wù)?em>X射線衍射儀(XRD)的結(jié)構(gòu)組成

(3) 射線檢測器　檢測衍射強(qiáng)度或同時檢測衍射方向, 通過儀器測量記錄系統(tǒng)或計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)可以得到多晶衍射圖譜數(shù)據(jù)。?　　(4) 衍射圖的處理分析系統(tǒng)　現(xiàn)代衍射儀都附帶安裝有衍射圖處理分析軟件的計(jì)算機(jī)系統(tǒng), 它們的特點(diǎn)是自動化和智能化。...

X射線衍射儀的基本構(gòu)造

（3） 射線檢測器　檢測衍射強(qiáng)度或同時檢測衍射方向, 通過儀器測量記錄系統(tǒng)或計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)可以得到多晶衍射圖譜數(shù)據(jù)。（4） 衍射圖的處理分析系統(tǒng)　現(xiàn)代X射線衍射儀都附帶安裝有專用衍射圖處理分析軟件的計(jì)算機(jī)系統(tǒng), 它們的特點(diǎn)是自動化和智能化。...

NS-EN 13925-3:2005 中可能用到的儀器設(shè)備



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