BS ISO 17867:2020
粒度分析 小角 X 射線散射 (SAXS)
Particle size analysis. Small angle X-ray scattering (SAXS)
- 標準號
- BS ISO 17867:2020
- 發(fā)布
- 2020年
- 總頁數(shù)
- 36頁
- 發(fā)布單位
- 英國標準學會
- 當前最新
- BS ISO 17867:2020
- 引用標準
- ISO 26824 ISO/TS 80004-2
- 本體
- 顆粒
- 適用范圍
- 范圍 本文件規(guī)定了應用小角 X 射線散射 (SAXS) 估計 1 nm 至 100 nm 尺寸范圍內(nèi)平均粒徑的方法。它適用于顆粒之間的相互作用和散射效應可以忽略不計的稀分散體。本文描述了幾種數(shù)據(jù)評估方法：吉尼爾近似、基于模型的數(shù)據(jù)擬合、基于蒙特卡羅的數(shù)據(jù)擬合、間接傅立葉變換方法和期望最大化方法。最合適的評估方法旨在由分析師選擇并在報告中明確說明。雖然吉尼爾近似僅提供平均粒徑的估計，但其他方法也可以深入了解粒徑分布。
BS ISO 17867:2020 中提到的儀器設備
| SAXS儀器 | 由X射線源、光學元件、準直系統(tǒng)、樣品架、光束阻擋器和X射線探測器組成的設備。 |
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專題
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小角X射線散射儀簡介
小角X射線散射儀是一種用于物理學、化學領域的分析儀器，于2013年1月12日啟用。 技術指標 最大功率：40kV、50mA；小角測量范圍（q）：0.07°～5°；大角測量范圍（q）：0.07°～40°。 主要功能 1)分散體系中粒子的形貌、尺寸、孔結構以及尺寸分布等； 2)高分子聚合物...