GB/T 2423.3-2016
環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗
Environmental testing—Part 2：Testing method—Test Cab:Damp heat,steady state
GBT2423.3-2016, GB2423.3-2016
- 標(biāo)準(zhǔn)號
- GB/T 2423.3-2016
- 別名
- GBT2423.3-2016, GB2423.3-2016
- 發(fā)布
- 2016年
- 總頁數(shù)
- 12頁
- 采用標(biāo)準(zhǔn)
- IEC 60068-2-78:2012 IDT
- 發(fā)布單位
- 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
- 當(dāng)前最新
- GB/T 2423.3-2016
- 引用標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 16499-2008 GB/T 2421.1-2008 GB/T 2424.6-2006
- 被代替標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 2423.3-2006
- 適用范圍
- ，GB/T2423 的本部分規(guī)定了確定元件或設(shè)備在高濕度的條件下使用,貯存和運(yùn)輸時適應(yīng)性的試驗方法。 本部分的目的是用于確定規(guī)定時間內(nèi)恒定溫度.無凝露的高濕環(huán)境對試驗樣品的影響。 本部分適用于小型設(shè)備或元件,也適用于大型設(shè)備,同時適用于散熱和非散熱試驗樣品。
其他標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 2423.6-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分;試驗方法 試驗Eb和導(dǎo)則; 碰撞
GB/T 2423.44-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Eg:撞擊 彈簧錘
GB/T 2423.8-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分;試驗方法 試驗Ed:自由跌落
GB/T 2423.12-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fda: 寬頻帶隨機(jī)振動--高再現(xiàn)性
GB/T 2423.9-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分;試驗方法 試驗Cb: 設(shè)備用恒定濕熱
GJB 548B-2005 微電子器件試驗方法和程序
GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Db 交變濕熱(12h＋12h循環(huán))
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗.第2部分:試驗方法.試驗A: 低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗.第2部分:試驗方法.試驗B:高溫
GJB 4710A-2008 軍用直升機(jī)檢驗驗收要求
GB/T 28046.4-2011 道路車輛.電氣及電子設(shè)備的環(huán)境條件和試驗.第4部分：氣候負(fù)荷
YD/T 2379.2-2011 電信設(shè)備環(huán)境試驗要求和試驗方法.第2部分：中心機(jī)房的電信設(shè)備
GB/T 2423.50-2012 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cy: 恒定濕熱 主要用于元件的加速試驗
GB/T 2423.65-2024 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗：鹽霧/溫度/濕度/太陽輻射綜合
GB/T 17626.3-2023 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 第3部分：射頻電磁場輻射抗擾度試驗
GJB 4.2-1983 艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗 高溫試驗
GB/T 2423.5-2019 環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ea和導(dǎo)則:沖擊
IEC 60747-8:2021 半導(dǎo)體器件分立器件第8部分:場效應(yīng)晶體管
GJB 4.10-1983 艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗 霉菌試驗
專題
GB/T 2423.3-2016相似標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗.第2部分:試驗方法試驗Cab:恒定濕熱試驗
LST EN 60068-2-78-2013 環(huán)境試驗. 第2-78部分: 試驗. 試驗Cab: 恒定濕熱試驗 (IEC 60068-2-78-2012)
TCVN 7699-2-78-2007 環(huán)境試驗.第2-78部分:試驗Cab:濕熱,穩(wěn)態(tài)
GOST R IEC 60068-2-78-2009 環(huán)境測試.第2-78部分:試驗.測試Cab:濕熱,恒定穩(wěn)狀態(tài)
EN 60068-2-78:2013 環(huán)境試驗.第2-78部分:試驗.試驗Cab:穩(wěn)態(tài)濕熱
推薦
恒定濕熱試驗的溫度環(huán)境變化
?隨著現(xiàn)代工業(yè)技術(shù)的迅速發(fā)展，電工、電子產(chǎn)品的應(yīng)用領(lǐng)域日益廣闊，所經(jīng)受的環(huán)境條件也愈來愈復(fù)雜多樣。只有合理地規(guī)定產(chǎn)品的環(huán)境條件，正確地選擇產(chǎn)品的環(huán)境防護(hù)措施，才能保證產(chǎn)品在儲存運(yùn)輸中免遭損壞，在使用過程中安全可靠。因而，電工、電子產(chǎn)品進(jìn)行人工模擬環(huán)境試驗是保證其高質(zhì)量所必不可少的重要環(huán)節(jié)。人工模擬...
高低溫交變濕熱或恒定試驗的溫度環(huán)境變化
隨著現(xiàn)代工業(yè)技術(shù)的迅速發(fā)展，電工、電子產(chǎn)品的應(yīng)用領(lǐng)域日益廣闊，所經(jīng)受的環(huán)境條件也愈來愈復(fù)雜多樣。只有合理地規(guī)定產(chǎn)品的環(huán)境條件，正確地選擇產(chǎn)品的環(huán)境防護(hù)措施，才能保證產(chǎn)品在儲存運(yùn)輸中免遭損壞，在使用過程中安全可靠。因而，電工、電子產(chǎn)品進(jìn)行人工模擬環(huán)境試驗是保證其高質(zhì)量所必不可少的重要環(huán)節(jié)。人工模擬環(huán)境...
雙85溫濕度環(huán)境試驗
供第三方的試驗結(jié)果報告；2.? 提供對產(chǎn)品通過雙85試驗的分析改良方案。?參考標(biāo)準(zhǔn):?恒溫恒濕試驗 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗GB/T 2423.3-2006。?儀器設(shè)備名稱恒溫恒濕試驗箱，也稱恒溫恒濕試驗機(jī)、恒溫恒濕實驗箱、恒溫機(jī)或恒溫恒濕箱?...
GB/T 2423.3-2016系列標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗.第2部分:試驗方法.試驗A: 低溫
GB/T 2423.10-2019 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fc: 振動(正弦)
GB/T 2423.101-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗.第2部分:試驗方法.試驗:傾斜和搖擺
GB/T 2423.102-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗.第2部分:試驗方法.試驗:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(正弦)綜合
GB/T 2423.11-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fd: 寬頻帶隨機(jī)振動--一般要求
GB/T 2423.12-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fda: 寬頻帶隨機(jī)振動--高再現(xiàn)性
GB/T 2423.13-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fdb: 寬頻帶隨機(jī)振動--中再現(xiàn)性
GB/T 2423.14-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fdc: 寬頻帶隨機(jī)振動--低再現(xiàn)性
GB/T 2423.15-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗.第2部分: 試驗方法.試驗Ga和導(dǎo)則: 穩(wěn)態(tài)加速度
GB/T 2423.16-2022 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗J和導(dǎo)則：長霉
GB/T 2423.17-2024 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ka：鹽霧
GB/T 2423.18-2021 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Kb：鹽霧，交變（氯化鈉溶液）
GB/T 2423.19-2013 環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Kc:接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗.第2部分:試驗方法.試驗B:高溫
GB/T 2423.20-2014 環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Kd:接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗
GB/T 2423.21-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗.第2部分:試驗方法.試驗M:低氣壓
GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗.第2部分：試驗方法.試驗N：溫度變化
GB/T 2423.23-2013 環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Q:密封
GB/T 2423.24-2022 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗S：模擬地面上的太陽輻射及太陽輻射試驗和氣候老化試驗導(dǎo)則
GB/T 2423.25-2008 電工電子產(chǎn)品 環(huán)境試驗.第2部分:試驗方法.試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗
GB/T 2423.26-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗.第2部分:試驗方法.試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗
GB/T 2423.27-2020 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗
GB/T 2423.28-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分;試驗方法 試驗T:錫焊
GB/T 2423.29-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗U:引出端及整體安裝件強(qiáng)度
GB/T 2423.3-2016 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗