BS ISO 19830:2015
表面化學(xué)分析. 電子能譜. X射線光電子能譜峰擬合的最低報告要求
Surface chemical analysis. Electron spectroscopies. Minimum reporting requirements for peak fitting in X-ray photoelectron spectroscopy
- 標(biāo)準(zhǔn)號
- BS ISO 19830:2015
- 發(fā)布
- 2015年
- 發(fā)布單位
- 英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會
- 當(dāng)前最新
- BS ISO 19830:2015
- 引用標(biāo)準(zhǔn)
- ISO 18115-1 ISO 21270
專題
BS ISO 19830:2015相似標(biāo)準(zhǔn)
推薦
?能譜儀EDS
可以測量光電子的能量，以光電子的動能為橫坐標(biāo)，相對強(qiáng)度（脈沖/s）為縱坐標(biāo)可做出光電子能譜圖。從而獲得試樣有關(guān)信息。X射線光電子能譜因?qū)?em>化學(xué)分析最有用，因此被稱為化學(xué)分析用電子能譜（Electron?Spectroscopy?for?Chemical?Analysis）。 ?????1，元素的定性分析?？梢愿鶕?jù)能譜圖中出現(xiàn)的特征譜線的位置鑒定除H、He以外的所有元素。 ??2，元素的定量分析。...
X射線光電子能譜（ XPS）
X射線光電子能譜因?qū)?em>化學(xué)分析最有用，因此被稱為化學(xué)分析用電子能譜（Electron Spectroscopy for Chemical Analysis）。?1. 元素的定性分析?？梢愿鶕?jù)能譜圖中出現(xiàn)的特征譜線的位置鑒定除H、He以外的所有元素。?2. 元素的定量分析。根據(jù)能譜圖中光電子譜線強(qiáng)度（光電子峰的面積）反應(yīng)原子的含量或相對濃度。?3. 固體表面分析。...
賽默飛2016表面分析應(yīng)用交流會：全方位呈現(xiàn)技術(shù)進(jìn)展
中山大學(xué) 龔力 中山大學(xué)的龔力帶來題為《光電子能譜在材料研究中的應(yīng)用》的報告。龔力在報告中介紹了光電子能譜在能源材料、環(huán)境材料、薄膜晶體管中的應(yīng)用，以及通過結(jié)合其他技術(shù)進(jìn)行界面結(jié)構(gòu)分析。華東理工大學(xué) 蔣棟 華東理工大學(xué)的蔣棟帶來題為《非線性最小二乘法擬合在Ni2p峰擬合中的應(yīng)用》的報告。...
xps原理有什么不同
?。?）固體表面的激發(fā)與檢測 X射線光電子能譜（XPS）：激發(fā)源為X射線，用X射線作用于樣品表面，產(chǎn)生光電子。通過分析光電子的能量分布得到光電子能譜。用于研究樣品表面組成和結(jié)構(gòu)。又稱為化學(xué)分析光電子能譜法（ESCA）?！ ∽贤?em>光電子能譜（UPS）：激發(fā)源為紫外光，只能激發(fā)原子的價電子，用于量子化學(xué)研究。 俄歇電子能譜(AES)：激發(fā)源為電子束，用于表面成分的快速分析。 ...