測(cè)量顆粒粒徑
本專題涉及測(cè)量顆粒粒徑的標(biāo)準(zhǔn)有2條。
國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，測(cè)量顆粒粒徑涉及到光學(xué)和光學(xué)測(cè)量。
在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，測(cè)量顆粒粒徑涉及到電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器。
美國材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)，關(guān)于測(cè)量顆粒粒徑的標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM E1037-15 測(cè)量RDF-5顆粒粒徑分布的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
國家質(zhì)檢總局，關(guān)于測(cè)量顆粒粒徑的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 42208-2022 納米技術(shù) 多相體系中納米顆粒粒徑測(cè)量 透射電鏡圖像法
