電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫? ? ? GB/T2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫? ? ? GB/T10592-2008 ?高低溫箱技術(shù)條件? ? ? GJB150.-2009 ?軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分:溫度沖擊試驗? ? ? GJB360A-1996方法107溫度沖擊試驗的要求?? ? ? GJB 360.7-1987 電子及電氣元件試驗方法 溫度沖擊試驗?...
??兩箱式溫度沖擊試驗箱分為高溫室和低溫室,其箱體結(jié)構(gòu)設(shè)計采用獨特的斷熱結(jié)構(gòu)及蓄熱蓄冷效果,試驗時待測物完全靜止,應用冷熱風路切換方式將冷、熱溫度導入測試區(qū)實現(xiàn)冷熱沖擊測試目的。在試驗過程中我們也許會碰到試驗箱提籃不工作,出現(xiàn)此類現(xiàn)象的原因是什么呢?? ? ? 1、溫度沖擊試驗箱提藍卡死,打開試驗箱門,目測提籃是否有卡住現(xiàn)象;? ? ? 2、氣動電磁閥損壞,導致氣缸氣路無法切換,提籃只能停留在起始位置,氣缸內(nèi)部不密封;? ? ? 3、外部電源未供氣或調(diào)壓閥損壞;? ? ? 4、鋼絲繩松動或斷裂。? ? ? 兩箱式溫度沖擊試驗箱符合標準:? ? ? GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫? ? ? GB/T2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫? ? ? GB/T10592-2008 ?高低溫箱技術(shù)條件? ? ? GJB150.-2009 ?軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分:溫度沖擊試驗? ? ? GJB360A-1996方法107溫度沖擊試驗的要求?? ? ? GJB 360.7-1987 電子及電氣元件試驗方法 溫度沖擊試驗...
℃ 6.注:其它非標或特殊內(nèi)箱尺寸柳沁可根據(jù)客戶要求定制,外箱尺寸以實際尺寸為準?! 〕?em>低溫沖擊試驗箱滿足:GBT?2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗?第2部分試驗方法試驗A低溫/GBT?2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法;試驗B:高溫/GBT...
10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗A:低溫GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗B:高溫GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則GJB...
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