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GB/T 14999.7-2010
高溫合金鑄件 晶粒度、一次枝晶間距和顯微疏松測定方法

Test methods for grain sizes,primary dendrite spacing and microshrinkage of superalloy castings

GBT14999.7-2010, GB14999.7-2010


標(biāo)準(zhǔn)號
GB/T 14999.7-2010
別名
GBT14999.7-2010, GB14999.7-2010
發(fā)布
2010年
總頁數(shù)
19頁
發(fā)布單位
國家質(zhì)檢總局
當(dāng)前最新
GB/T 14999.7-2010
 
 
引用標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 14992 GB/T 6394
 
 
本體
晶粒度 高溫合金
適用范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了高溫含金鑄件等軸晶宏觀和顯微平均晶粒度、柱狀晶晶粒度、柱狀晶和單晶一次枝晶平均間距、顯微疏松的測定方法及結(jié)果表示方法。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于普通精密鑄造鑄件、定向凝固柱晶鑄件中晶粒度的測定;定向凝固柱晶和單晶鑄件中一次枝晶間距的測定;普通精密鑄造鑄件、定向凝固柱晶和單晶鑄件中顯微疏松的測定。 本標(biāo)準(zhǔn)僅作為推薦性測定方法,不對高溫合金鑄件驗收測試的合格級別范圍進(jìn)行規(guī)定。
術(shù)語描述
等軸晶
equiaxed grain
三維尺寸大致相同,無方向性排列的晶粒。
柱狀晶
columnar grain
沿一維方向定向生長形成的、平行于鑄件主應(yīng)力軸線或整個試樣、沿著縱向排列的晶粒。
偏離度
deviation angle
單個柱狀晶生長方向(柱狀晶軸線)與鑄件主應(yīng)力軸線的夾角。
發(fā)散度
divergence angle
兩個相鄰柱狀晶軸線的夾角。

GB/T 14999.7-2010 中提到的儀器設(shè)備

投影儀
精度±0.001mm
用于測量晶粒度和枝晶間距的實際尺寸。

影像測量儀

拓豐儀器 VMS-1510

視頻光學(xué)投影儀

品智創(chuàng)思 EVM-1510G

顯微鏡
放大倍數(shù)可調(diào),用于微觀結(jié)構(gòu)觀察
用于觀測顯微疏松、晶粒度和枝晶間距。

其他標(biāo)準(zhǔn)


專題


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