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GB/T 2423.45-2012
環(huán)境試驗(yàn).第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/ABDM:氣候順序

Environmental testing.Part 2:Test methods.Test Z/ABDM:Climatic sequence

GBT2423.45-2012, GB2423.45-2012


GB/T 2423.45-2012 發(fā)布?xì)v史

GB/T 2423.45-2012由國(guó)家質(zhì)檢總局 CN-GB 發(fā)布于 2012-12-31,并于 2013-06-01 實(shí)施。

GB/T 2423.45-2012 在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中歸屬于: K04 基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)和通用方法,在國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中歸屬于: 19.040 環(huán)境試驗(yàn)。

GB/T 2423.45-2012 環(huán)境試驗(yàn).第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/ABDM:氣候順序的最新版本是哪一版?

最新版本是 GB/T 2423.45-2012

GB/T 2423.45-2012 采用標(biāo)準(zhǔn)及采用方式

  • MOD IEC 60068-2-61:1997

GB/T 2423.45-2012 發(fā)布之時(shí),引用了標(biāo)準(zhǔn)

  • GB/T 2421.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn).概述和指南
  • GB/T 2422-2012 環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)方法編寫(xiě)導(dǎo)則 術(shù)語(yǔ)和定義
  • GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn).第2部分:試驗(yàn)方法.試驗(yàn)A: 低溫
  • GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn).第2部分:試驗(yàn)方法.試驗(yàn)B:高溫
  • GB/T 2423.21-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn).第2部分:試驗(yàn)方法.試驗(yàn)M:低氣壓
  • GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db 交變濕熱(12h+12h循環(huán))
  • GB/T 2424.1-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則
  • GB/T 2424.2-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則
  • GB/T 4797.1 環(huán)境條件分類 自然環(huán)境條件 溫度和濕度*, 2018-05-14 更新
  • GB/T 4797.2 環(huán)境條件分類 自然環(huán)境條件 氣壓*, 2017-12-29 更新
  • GB/T 4797.3 環(huán)境條件分類 自然環(huán)境條件 第3部分:生物*, 2024-04-25 更新
  • GB/T 4797.4 環(huán)境條件分類 自然環(huán)境條件 太陽(yáng)輻射與溫度*, 2019-12-10 更新
  • GB/T 4797.5 環(huán)境條件分類 自然環(huán)境條件 降水和風(fēng)*2017-12-29 更新
  • GB/T 4797.6 環(huán)境條件分類 自然環(huán)境條件 塵、沙、鹽霧*, 2013-11-12 更新
  • GB/T 4797.7 電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件分類.自然環(huán)境條件.地震振動(dòng)和沖擊
  • GB/T 4797.8 電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件分類.自然環(huán)境條件.火災(zāi)暴露
  • GB/T 4797.9 環(huán)境條件分類 自然環(huán)境條件 貯存、運(yùn)輸和使用過(guò)程中測(cè)得的沖擊和振動(dòng)數(shù)據(jù)*, 2021-03-09 更新
  • GB/T 4798.1 環(huán)境條件分類 環(huán)境參數(shù)組分類及其嚴(yán)酷程度分級(jí) 第1部分:貯存*, 2019-08-30 更新
  • GB/T 4798.10 電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件 導(dǎo)言
  • GB/T 4798.2 環(huán)境條件分類 環(huán)境參數(shù)組分類及其嚴(yán)酷程度分級(jí) 第2部分:運(yùn)輸和裝卸*2021-05-21 更新
  • GB/T 4798.3 環(huán)境條件分類 環(huán)境參數(shù)組分類及其嚴(yán)酷程度分級(jí) 第3部分:有氣候防護(hù)場(chǎng)所固定使用*, 2023-05-23 更新
  • GB/T 4798.4 環(huán)境條件分類 環(huán)境參數(shù)組分類及其嚴(yán)酷程度分級(jí) 第4部分:無(wú)氣候防護(hù)場(chǎng)所固定使用*, 2023-05-23 更新
  • GB/T 4798.5 電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件 第5部分:地面車輛使用
  • GB/T 4798.6 環(huán)境條件分類 環(huán)境參數(shù)組分類及其嚴(yán)酷程度分級(jí) 船用
  • GB/T 4798.7 電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件.第7部分:攜帶和非固定使用
  • GB/T 4798.9 環(huán)境條件分類.環(huán)境參數(shù)組分類及其嚴(yán)酷程度分級(jí).產(chǎn)品內(nèi)部的微氣候

* 在 GB/T 2423.45-2012 發(fā)布之后有更新,請(qǐng)注意新發(fā)布標(biāo)準(zhǔn)的變化。

GB/T 2423.45-2012的歷代版本如下:

  • 2012年 GB/T 2423.45-2012 環(huán)境試驗(yàn).第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/ABDM:氣候順序
  • 1997年 GB/T 2423.45-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分;試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/ABDM:氣候順序

 

GB/T 2423的本部分給出了確定試驗(yàn)樣品在承受依次由溫度、濕熱和低氣壓(必要時(shí))等環(huán)境應(yīng)力組成的環(huán)境條件時(shí)的環(huán)境適應(yīng)性的一種標(biāo)準(zhǔn)的組合試驗(yàn)方法。 施加應(yīng)力的次序與試驗(yàn)步驟轉(zhuǎn)換時(shí)的環(huán)境條件已經(jīng)選定,以便加速并強(qiáng)化與自然氣候條件相同的劣化機(jī)理。 當(dāng)劣化機(jī)理相同且滿足規(guī)定的試驗(yàn)要求時(shí),本部分也可作為編寫(xiě)類似試驗(yàn)方法的基礎(chǔ)。 在本試驗(yàn)中,試驗(yàn)樣品按標(biāo)準(zhǔn)順序接受環(huán)境試驗(yàn),并按GB/T 2421.1—2008附錄A 規(guī)定的代號(hào)分類,只是第3組數(shù)字用于表示第5步:交變濕熱試驗(yàn)Db的周期數(shù)(見(jiàn)GB/T 2423.4—2008第5章)。在本部分中,-/-/56、40/-/-等氣候類型中的短劃線可用55/100/56、25/085/56、40/085/21等組合中適合于該位置的任何標(biāo)準(zhǔn)值代替,如需要改變,有關(guān)規(guī)范應(yīng)為所選試驗(yàn)方法的每個(gè)步驟提供所需的資料(見(jiàn)第8章)。 本試驗(yàn)常被安排在與機(jī)械應(yīng)力有關(guān)的其他試驗(yàn)如端子強(qiáng)度試驗(yàn)、可焊性試驗(yàn)和振動(dòng)試驗(yàn)之后進(jìn)行,以作為確定試驗(yàn)樣品的密封性是否損壞的方法。

GB/T 2423.45-2012

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標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
GB/T 2423.45-2012
別名
GBT2423.45-2012
GB2423.45-2012
發(fā)布
2012年
總頁(yè)數(shù)
19頁(yè)
采用標(biāo)準(zhǔn)
IEC 60068-2-61:1997 MOD
發(fā)布單位
國(guó)家質(zhì)檢總局
當(dāng)前最新
GB/T 2423.45-2012
 
 
引用標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 2421.1-2008 GB/T 2422-2012 GB/T 2423.1-2008 GB/T 2423.2-2008 GB/T 2423.21-2008 GB/T 2423.4-2008 GB/T 2424.1-2005 GB/T 2424.2-2005 GB/T 4797.1 GB/T 4797.2 GB/T 4797.3 GB/T 4797.4 GB/T 4797.5 GB/T 4797.6 GB/T 4797.7 GB/T 4797.8 GB/T 4797.9 GB/T 4798.1 GB/T 4798.10 GB/T 4798.2 GB/T 4798.3 GB/T 4798.4 GB/T 4798.5 GB/T 4798.6 GB/T 4798.7 GB/T 4798.9
被代替標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 2423.45-1997

其他標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 2423.6-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分;試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則; 碰撞 GB/T 2423.44-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eg:撞擊 彈簧錘 GB/T 2423.8-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分;試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed:自由跌落 GB/T 2423.11-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fd: 寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)--一般要求 GB/T 2423.12-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fda: 寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)--高再現(xiàn)性 GB/T 2423.9-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分;試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cb: 設(shè)備用恒定濕熱 GB/T 2423.28-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分;試驗(yàn)方法 試驗(yàn)T:錫焊 GB/T 2423.32-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn).第2部分:試驗(yàn)方法.試驗(yàn)Ta: 潤(rùn)濕稱量法可焊性 GB/T 2423.58-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn).第2-80部分:試驗(yàn)方法.試驗(yàn)Fi: 振動(dòng).混合模式 GB/T 2423.59-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn).第2部分:試驗(yàn)方法.試驗(yàn).Z/ABMFh:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(隨機(jī))綜合 GB/T 2423.60-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn).第2部分:試驗(yàn)方法.試驗(yàn)U:引出端及整體安裝件強(qiáng)度 GB/T 2423.50-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cy: 恒定濕熱 主要用于元件的加速試驗(yàn) GB/T 2423.65-2024 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn):鹽霧/溫度/濕度/太陽(yáng)輻射綜合 GB/T 2423.61-2018 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)和導(dǎo)則:大型試件砂塵試驗(yàn) GB/T 2423.5-2019 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則:沖擊 GB/T 2423.54-2022 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Xc:流體污染 GB/T 2423.47-2018 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fg:聲振 GB/T 2423.38-2021 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)R:水試驗(yàn)方法和導(dǎo)則 GB/T 2423.17-2024 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ka:鹽霧

專題


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GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn).第2部分:試驗(yàn)方法.試驗(yàn)A: 低溫 GB/T 2423.10-2019 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc: 振動(dòng)(正弦) GB/T 2423.101-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn).第2部分:試驗(yàn)方法.試驗(yàn):傾斜和搖擺 GB/T 2423.102-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn).第2部分:試驗(yàn)方法.試驗(yàn):溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(正弦)綜合 GB/T 2423.11-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fd: 寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)--一般要求 GB/T 2423.12-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fda: 寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)--高再現(xiàn)性 GB/T 2423.13-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fdb: 寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)--中再現(xiàn)性 GB/T 2423.14-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fdc: 寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)--低再現(xiàn)性 GB/T 2423.15-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn).第2部分: 試驗(yàn)方法.試驗(yàn)Ga和導(dǎo)則: 穩(wěn)態(tài)加速度 GB/T 2423.16-2022 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)J和導(dǎo)則:長(zhǎng)霉 GB/T 2423.17-2024 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ka:鹽霧 GB/T 2423.18-2021 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Kb:鹽霧,交變(氯化鈉溶液) GB/T 2423.19-2013 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Kc:接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn) GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn).第2部分:試驗(yàn)方法.試驗(yàn)B:高溫 GB/T 2423.20-2014 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Kd:接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn) GB/T 2423.21-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn).第2部分:試驗(yàn)方法.試驗(yàn)M:低氣壓 GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗(yàn).第2部分:試驗(yàn)方法.試驗(yàn)N:溫度變化 GB/T 2423.23-2013 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Q:密封 GB/T 2423.24-2022 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)S:模擬地面上的太陽(yáng)輻射及太陽(yáng)輻射試驗(yàn)和氣候老化試驗(yàn)導(dǎo)則 GB/T 2423.25-2008 電工電子產(chǎn)品 環(huán)境試驗(yàn).第2部分:試驗(yàn)方法.試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn) GB/T 2423.26-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn).第2部分:試驗(yàn)方法.試驗(yàn)Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗(yàn) GB/T 2423.27-2020 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn) GB/T 2423.28-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分;試驗(yàn)方法 試驗(yàn)T:錫焊 GB/T 2423.29-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)U:引出端及整體安裝件強(qiáng)度 GB/T 2423.3-2016 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)

GB/T 2423.45-2012 中可能用到的儀器設(shè)備


誰(shuí)引用了GB/T 2423.45-2012 更多引用





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